过压保护和过流保护是为避免电路中电压/电流过大从而损坏产品，所以一般的，保障器件在电压/电流过大时可以自动断开输出，因此过压/过流保护电压值和电流值也是电子测试中不可或缺的一项指标。

　　对电源芯片来说，它的过流保护和过压保护参数的测试也是芯片出厂时的必要检测指标之一。对于电源芯片的过流保护和过压保护测试来说，手动测试需要一台多通道电源、数字万用表以及电子负载三种硬件仪器就可以完成，具体步骤如下：

　　4. 硬件连接完成之后，设置数字万用表为测电压模式，量程选择自动;给电源的两个通道分别设置工作电压与电流值，打开电源通道，保证芯片正常启动

　　5. 芯片正常启动后，缓慢调整电源的输入电压，保证VIN端的电压缓慢上升，同时注意读取VOUT端数字万用表的读数

　　6. 增加VIN端的电压直至VOUT端万用表的电压读数跳变为远小于额定输出电压的电压值

　　11. 将负载拉载的电流缓慢增加，直至万用表读取的电压值跃变为远小于额定输出电压的电压值

　　12. 读取电子负载拉载的电流值，此电流值即为该芯片的过流保护的最大电流。

　　虽然看起来手动测试的步骤不多，但是真正操作起来的线分钟，因为涉及到电源电压和负载电流缓慢增加这一步骤，所以在实操中需要手动缓慢调整参数，直至达到一定的要求，这个步骤会耗费大量的时间，所以手动测试这两个项目，需要大量的人手和时间，整体测试效率较为低下。

　　芯片自动化测试对电源芯片的过压保护和过流保护来测试又要哪一些步骤呢？ 系统测试电源芯片时会比手动测试时多出一个硬件仪器，即纳米BOX，也叫边缘计算设备，我们的软件运行和数据计算都会在这个设备中进行，具体的测试步骤如下：

　　/LAN/RS232等方式连接到BOX上，之后通过网线. 在计算机上打开浏览器，进入ATECLOUD的网站并登陆4. 在ATECLOUD平台上根据手动操作的步骤搭建一套测试过压/过流保护的方案

　　5. 直接点击运行方案，等待测试完成后，在记录报告中查看测试的数据并导出测试报告。

　　系统自动测试的过程相比于手动测试要简单许多，软件会自动将对电源的VIN端电压和负载VOUT端的电流进行递增，参数改变和配置以及仪器的操作也是由软件自动完成，因此使用ATECLOUD-系统来进行测试只需要1-2分钟就可以完成，整个测试时间相比手动测试要块5-10倍有余。

　　而且芯片自动化检测系统中的报告导出功能，可以直接导出数据报告，无需人工记录数据，使得测试数据更精确，免去人工误差干扰。数据洞察功能能将所有的测试数据统一处理分析，并在大数据看板上集中展示，可以从芯片的质量分析、人员功效、芯片合格率、指标参数曲线等多重维度作对比分析，为企业管理的人的决策提供一线的真实数据支持。

　　相关要求USB应用的电压等级是5V，但是有个波动范围是4.75到5.25V之间；USB2.0的电流的大小是500mA，USB3.0的电流的大小是900mA，因为

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